iMicro 选项可供选择，配合您的新产品，或后续使用。 请联系你的销售代表获取更多相关信息。

连续刚度测量 (CSM)

连续刚度测量用于量化动态材料特性，例如应变率和频率引起的影响。CSM技术采用在压痕期间振荡压头以测量随深度、力荷载、时间或频率而变化的特性。 该选项包括恒定应变率实验，该实验测量硬度和模量与深度或载荷的函数关系，这是学术界和工业界最常用的测试方法。 CSM还可用于其他高级测量选项，包括用于存储和损耗模量测量的ProbeDMA™方法和与基板无关的测量方法AccuFilm™。CSM功能集成在InQuest控制器和InView软件中，易于使用并且保证数据质量。

InForce 50 驱动器

InForce 50驱动器采用高达50mN的力度进行纳米力学测试。电磁力专利技术应用可确保稳定的测量和力荷载与位移的长期稳定性。行业领先的机械设计确保谐波运动受限于一个自由度，从而力荷载和位移可控制在一个轴向。InForce 50驱动器与CSM、NanoBlitz、ProbeDMA、生物材料、样品加热、划痕、磨损和ISO 14577等测试选项兼容。整个系列的InForce和Gemini驱动器的压头都可以互换。

Gemini 双轴驱动器

Gemini双轴技术为第二个横轴提供了标准压痕性能，并且采用CSM同时沿两个轴运行。该专利技术所增加的信息有助于深入了解材料特性和失效机理。二维传感器是测量横向力和摩擦测量所必须的，并能够用于测量泊松比、摩擦系数、划痕、磨损、剪切和拓扑。

300°C样品加热

300°C样品加热选项允许将样品放入工作室中进行均匀加热的同时使用InForce 50驱动器进行测试。该选项包括高精度温度控制、惰性气体回填以减少氧化，以及冷却以去除废热。 ProbeDMA，AccuFilm，NanoBlitz和CSM均与样品加热选项兼容。

NanoBlitz 3D

NanoBlitz 3D利用InForce 50驱动器和Berkovich压头绘制高E（> 3GPa）材料的纳米力学性质的3D分布。NanoBlitz以每个压痕<1s实现多达100,000个压痕（300x300阵列），并对阵列中的每个压痕在指定负载下测量杨氏模量（E）、硬度（H）和刚度（S）值。大量的测试数据能够提高统计的准确性。直方图显示多个阶段或材料。NanoBlitz 3D方法包具有可视化和数据处理功能。

NanoBlitz 4D

NanoBlitz 4D利用InForce 50驱动器和Berkovich压头为低E/H和高E（> 3GPa）材料绘制4D纳米机械特性的分布。NanoBlitz以每次压缩5-10s进行多达10,000个压痕（30×30阵列）测试，并以每个压痕的深度为函数对杨氏模量（E）、硬度（H）和刚度（S）进行测量。 NanoBlitz 4D采用恒定应变率方法。该功能包具备可视化和数据处理功能。

AccuFilm™薄膜方法组合

AccuFilm薄膜方法组合是一种基于Hay-Crawford模型的InView测试方法，采用连续刚度测量（CSM）对基板无关的材料特性进行测量。AccuFilm对软基板上硬性薄膜测量进行基板材质的影响的校正，也对硬基板上的软性薄膜进行同类的校正。