Nanosurf LensAFM镜头式原子力显微镜
扩展您光学显微镜的分辨率
Nanosurf LensAFM 是一个当光学显微镜和轮廓仪达到其分辨率极限时可以帮您继续探究的原子力显微镜。它可以像常规物镜一样安装，从而无缝扩展了这些光学仪器的分辨率和测量能力。 LensAFM不仅提供3D表面形貌信息，还可用于分析被测样品的各种物理特性。
用你常用的仪器进行AFM测量
在越来越多的情境下，研究人员希望结合光学和原子力显微镜技术。光学显微镜的易用性，筛选能力和（无）样品制备要求几乎是无与伦比的。然而，有时目标放大100倍的是不够的，您想更仔细地观察一些超出仪器分辨率的微小特征。在常规实验室环境中，您需要两个专用仪器，并且有必要将样品从一个设备转移到另一个设备。 使用LensAFM则不必如此。凭借其极小的设计和巧妙的安装机制，您需要做的就是旋转光学显微镜或轮廓仪上的转盘并运行扫描。
LensAFM将完美地集成到您的工作流程中：将其安装在光学显微镜的转盘上 - 就像常规物镜一样 - 您可以使用正常物镜选样品以找到感兴趣的区域。随后，使用集成的8倍光学镜头可以再次定位该区域，然后您可以执行AFM测量以获得更高分辨率的3D信息：以您惯有的方式工作，分辨率和功能却得到极大提升。
LensAFM具有快速卸载机制，可轻松地将LensAFM安装到转台和从转台卸下。可调安装保证您可以以高于10μm的精度更换它。芯片安装座上的对准凹槽还可确保下一个微悬臂的尖端位于相同位置的4μm范围内，即使在微悬臂更换后也能再次回到相同的特征值。由于这些对准凹槽，您甚至不需要在微悬臂上执行激光对准，从而节省了额外的时间。
LensAFM 为您的光学显微镜带来了所有这些测量功能，无需重新思考一整个新的工作流程。观看视频，了解提升您的显微能力是多么容易。
提升光学显微镜的能力
由于光学显微镜的分辨率受光的波长限制，因此光学系统在可实现的分辨率上有一个极限。在越来越多的应用中，就需要光学和原子力显微镜的组合。此外，AFM可以无障碍表征透明样品或其他难以光学评估的样品。且不仅仅是样品的形貌：AFM还允许获得其他材料特性的知识，例如，表面粗糙度，硬度变化，磁性或电导/电阻。
LensAFM 成像模式
以下描述为仪器所具备的模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览产品手册或直接联系我们
标准成像模式
静态力模式
动态力模式(轻敲模式)
相位成像模式
电性能
导电探针 AFM (C-AFM)
压电力显微 (PFM)
静电力显微 (EFM)
开尔文探针力显微(KPFM)
扫描扩散电阻显微 (SSRM)
磁性能
磁力显微
机械性能
力调制
力谱
力映射
其他测量模式
刻蚀和纳米操纵
LensAFM 应用示例
LensAFM /光学平台组合提供了一个互补的成像系统，极大地扩展了这些仪器单独的分辨率和测量能力，如下面的三张图所示
相同区域由LensAFM的内置8倍物镜观察到的光学视图。 AFM微悬臂在光学图像中可见，允许在测量之前容易地定位样品。
由LensAFM记录的同样缺陷的AFM形貌。该区域的三维数据清楚地识别出该缺陷为涂层上的一个洞，部分被碎屑填充。
系统参数
| LensAFM 扫描头参数 | ||
|---|---|---|
| 最大扫描范围 (XY)(1,2) | 110 µm | 70 µm |
| 最长 Z-范围(1) | 22 µm | 14 µm |
| XY-线性平均误差 | < 0.6% | < 1.2&% |
| Z-测量噪声水平 (RMS, 静态模式)(3) | 典型值 350 pm (最大值 500 pm) | |
| Z-测量噪声水平 (RMS, 动态模式)(3) | 典型值 90 pm (最大值 150 pm) | |
| 自动样品趋近 | 内置电动平行趋近，行程4.5 mm | |
| 微悬臂对准 | 通过对准芯片技术自动进行自调整 | |
| 样品观察(4) | 内置 8× 物镜， 45或60 mm副焦距离(5) | |
| AFM 测量再定位精度 | ±10 µm (包括微悬臂更换，扫描头重新安装和接近) | |
| (1) 对于110-µm 扫描头，制造公差为±10%; 对于70-µm 扫描头，制造公差为±15% (2) AFM扫描方向旋转45°时的最大扫描范围 (3) 使用C3000控制器测量，在稳定的桌面上进行主动隔振，并在低噪声实验室环境中使用（无空调） (4) 对于不同的光学显微镜类型，均可提供具有正确副焦距的适配器 | ||
| C3000 控制器 — 核心硬件参数 | |
|---|---|
| X/Y/Z-轴扫描和位置控制器 | 3× 24-bit DAC (200 kHz) |
| X/Y/Z-轴扫描和位置控制器 | 3× 24-bit ADC (200 kHz) |
| 激励和调制输出 | 4× 16-bit DAC (20 MHz) |
| 模拟信号输入带宽 | 0–5 MHz |
| 主输入信号捕获 | 2× 16-bit ADC (20 MHz) 2× 24-bit ADC (200 kHz) |
| 附加用户信号输出 | 3× 24-bit DAC (200 kHz) |
| 附加用户信号输入 | 3× 24-bit ADC (200 kHz) |
| 附加监控信号输出 | 2× 24-bit ADC (200 kHz) |
| 数字同步 | 2× 数字输出, 2× 数字输入, 2× I2C 总线 |
| FPGA 模块和嵌入式处理器 | ALTERA FPGA, 32-bit NIOS-CPU, 80 MHz, 256 MB RAM, 多任务操作系统 |
| 通讯 | USB 2.0 高速连到PC和扫描头接口 |
| 系统时钟 | 内部夸脱(10mhz)或外部时钟 |
| 电源 | 90–240 V AC, 70 W, 50/60Hz |
扫描头尺寸
几乎可以安装在任何直立式光学显微镜或3D光学轮廓仪上
LensAFM可以像标准物镜一样安装，并通过各种可用的安装适配器与所有常用的光学显微镜和3D轮廓仪（Zeiss，Olympus，Leica，Nikon，Mitutoyo）兼容。
Zeiss / Olympus
BF RMS W20.32 x 0.706, 45 mm
Zeiss
DF M27 x 0.75, 45 mm
Olympus
DF RMS W26x0.706, 45mm
Leica
M25x0.75, 45 mm
Nikon
M25x0.75, 60 mm
Leica
M32x0.75, 45 mm
Nikon
M32x0.75, 60 mm
Mitutoyo
RMS W26x0.706, 95 mm