CCS Prima型控制器适配STIL光谱共焦传感器的点传感器，点传感器测量位于光轴上的点的高度，也可用来测量透明样品的厚度。共焦位移传感器的测量范围根据不同光笔可选，具有垂直测量范围从100微米到几十mm的多种不同型号，兼容所有CL系列、OP系列与ENDO系列的不同光笔探头，最多可实现20个不同的光笔在同一个控制器上互换使用。

• 经典的共焦位移传感器的控制器

• 采样频率：高达2KHz

• 配置高信噪比的CCD光电探测器

• 单通道、双通道与四通道多种型号可选

• 具备CCS系列控制器的所有优势

• 具备高度与厚度测量模式