CCS Optima+ 型控制器适配STIL光谱共焦传感器的点传感器，点传感器测量位于光轴上的点的高度，也可用来测量透明样品的厚度。共焦位移传感器的测量范围根据不同光笔可选，具有垂直测量范围从100微米到几十mm的多种不同型号，兼容所有CL系列、OP系列与ENDO系列的不同光笔探头，最多可实现20个不同的光笔在同一个控制器上互换使用。

1. 高分辨率、高精度、高线性度

2. 适用于各种样品，不管是透明还是不透明，高反射还是低反射样品

3. 适合于各种材料表面（金属、玻璃、半导体、塑料等等）

4. 样品表面无需处理即可测量

5. 两种测量模式：高度模式与厚度模式

6. 多种光笔可选

7. 最大采样速度达10KHz